測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)對(duì)物體進(jìn)行厚度測(cè)量的一種儀器。在工業(yè)生產(chǎn)中得到廣泛的應(yīng)用。測(cè)厚儀的種類(lèi)有：X射線測(cè)厚儀、紙張測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、在線測(cè)厚儀、超聲測(cè)厚儀、壓力測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀等。
測(cè)厚儀的種類(lèi)有很多，其中我們常見(jiàn)的測(cè)厚儀有：超聲波測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、紙張測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀等。那么它們都應(yīng)用在那些領(lǐng)域呢？下面就來(lái)介紹一下。
1、超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
2、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
3、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
4、紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
5、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
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